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pam-xiamen ofrece una placa fotorresistente con fotorresistencia


podemos ofrecer nanolitografía (fotolitografía): preparación de la superficie, aplicación fotorresistente, cocción suave, alineación, exposición, desarrollo, horneado duro, desarrollo de inspección, grabado, eliminación de fotoresist (tira), inspección final.

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pam-xiamen ofrece fotorresistencia placa con fotorresistencia


Podemos ofrecer nanolitografía ( fotolitografía ):preparación de la superficie, fotorresistencia aplicar, cocción suave, alineación, exposición, desarrollo, hornear duro, desarrollar inspeccionar, grabar, fotorresistencia extracción (tira), inspección final.


un fotorresistencia es un material sensible a la luz utilizado en varios procesos, como fotolitografía y fotograbado, para formar un revestimiento modelado en una superficie, que es crucial en toda la industria electrónica.


una resistencia positiva es un tipo de fotorresistencia en el cual la porción del fotorresistencia que está expuesto a la luz se vuelve soluble a la fotorresistencia desarrollador. la parte no expuesta del fotorresistencia permanece insoluble a la fotorresistencia desarrollador.


un negativo fotorresistencia es un tipo de fotorresistencia en el cual la porción del fotorresistencia que está expuesto a la luz se vuelve insoluble para el fotorresistencia desarrollador. la parte no expuesta del fotorresistencia se disuelve por el fotorresistencia desarrollador.


basado en la estructura química de fotorresistentes , se pueden clasificar en tres tipos: fotopolimérico, fotodescomposición, fotocrosslinking, fotorresistencia .


aplicaciones:

impresión de microcontacto

fabricación de placas de circuito impreso (pcb)

modelado y grabado de sustratos

microelectrónica


fotorresistencia microposit

futurrex

otro fotorresistentes ,

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Substrato de sustrato de silicio 2 "3" 4 "5" 6 "8"

sustrato de cuarzo ssp / dsp

sustrato de vidrio notario público

Sustrato sio2 100/110/111

otro sustrato,

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diferencias entre resistencia positiva y negativa

característica

positivo

negativo

adhesión a  silicio

justa

excelente

coste relativo

más caro

menos costoso

base de desarrolladores

acuoso

orgánico

solubilidad en  El desarrollador

región expuesta  es soluble

región expuesta  es insoluble

característica mínima

0.5 μm

2 μm

cobertura de paso

mejor

inferior

químico húmedo  resistencia

justa

excelente


procedimiento básico

una sola iteración de fotolitografía combina varios pasos en secuencia. las salas limpias modernas utilizan sistemas robóticos automatizados de seguimiento de obleas para coordinar el proceso. el procedimiento descrito aquí omite algunos tratamientos avanzados, como los agentes de dilución o la eliminación de bordes perlados.


limpieza

si hay contaminaciones orgánicas o inorgánicas en la superficie de la oblea, generalmente se eliminan mediante tratamiento químico húmedo, p. el procedimiento de limpieza de rca basado en soluciones que contienen peróxido de hidrógeno. otras soluciones hechas con tricloroetileno, acetona o metanol también se pueden usar para limpiar.


preparación

la oblea se calienta inicialmente a una temperatura suficiente para expulsar la humedad que pueda estar presente en la superficie de la oblea, es suficiente 150 ° c durante diez minutos. Las obleas que se han almacenado deben limpiarse químicamente para eliminar la contaminación. se aplica un "promotor de adhesión" líquido o gaseoso, como bis (trimetilsilil) amina ("hexametildisilazano", hmds), para promover la adhesión del fotorresistencia a la oblea. la capa superficial de dióxido de silicio en la oblea reacciona con hmds para formar dióxido de silicio tri-metilado, una capa altamente repelente al agua no muy diferente de la capa de cera en la pintura de un automóvil. esta capa repelente al agua evita que el desarrollador acuoso penetre entre fotorresistencia capa y la superficie de la oblea, evitando así el llamado levantamiento de pequeños fotorresistencia estructuras en el patrón (en desarrollo). para garantizar el desarrollo de la imagen, es mejor cubrirla y colocarla sobre una placa caliente y dejarla secar mientras se estabiliza la temperatura a 120 ° c.


fotorresistencia solicitud

la oblea está cubierta con fotorresistencia por centrifugado. se dispensa una solución líquida viscosa de fotorresistente sobre la oblea, y la oblea se hila rápidamente para producir una capa uniformemente gruesa. el recubrimiento de centrifugado típicamente funciona a 1200 a 4800 rpm durante 30 a 60 segundos, y produce una capa de entre 0,5 y 2,5 micrómetros de espesor. el proceso de recubrimiento por centrifugado da como resultado una capa delgada uniforme, generalmente con una uniformidad de entre 5 y 10 nanómetros. esta uniformidad puede explicarse mediante un detallado modelado fluido-mecánico, que muestra que la resistencia se mueve mucho más rápido en la parte superior de la capa que en la parte inferior, donde las fuerzas viscosas unen la resistencia a la superficie de la oblea. por lo tanto, la capa superior de resistencia se expulsa rápidamente del borde de la oblea mientras que la capa inferior todavía se mueve lentamente de forma radial a lo largo de la oblea. de esta manera, se elimina cualquier 'bache' o 'cresta' de resistencia, dejando una capa muy plana. el espesor final también se determina por la evaporación de los solventes líquidos de la resistencia. para características muy pequeñas y densas (u0026 lt; 125 o tan nm), se necesitan espesores de resistencia más bajos (u0026 lt; 0,5 micrómetros) para superar los efectos de colapso a altas relaciones de aspecto; las relaciones de aspecto típicas son u0026 lt; 4: 1.

la oblea revestida con fotorresistencia se precocina para eliminar el exceso fotorresistencia disolvente, típicamente de 90 a 100 ° C durante 30 a 60 segundos en una placa calefactora.


exposición y desarrollo

después del precocido, fotorresistencia está expuesto a un patrón de luz intensa. la exposición a la luz causa un cambio químico que permite algunas de las fotorresistencia para ser eliminado por una solución especial, llamada "desarrollador" por analogía con el desarrollador fotográfico. positivo fotorresistencia , el tipo más común, se vuelve soluble en el desarrollador cuando se expone; con negativo fotorresistencia , las regiones no expuestas son solubles en el desarrollador.

se realiza una cocción (peb) posterior a la exposición antes del revelado, generalmente para ayudar a reducir los fenómenos de ondas estacionarias causados ​​por los patrones de interferencia destructiva y constructiva de la luz incidente. en la litografía ultravioleta profunda, se utiliza la química de resistencia químicamente amplificada (automóvil). este proceso es mucho más sensible al tiempo, la temperatura y la demora del peb, ya que la mayor parte de la reacción de "exposición" (que crea ácido, lo que hace que el polímero sea soluble en el desarrollador básico) realmente ocurre en el peb.

la química de desarrollo se entrega en un spinner, muy parecido a fotorresistencia. los desarrolladores originalmente a menudo contenían hidróxido de sodio (naoh). sin embargo, el sodio se considera un contaminante extremadamente indeseable en la fabricación de mosfet porque degrada las propiedades aislantes de los óxidos de las compuertas (específicamente, los iones de sodio pueden migrar dentro y fuera de la compuerta, cambiando el voltaje de umbral del transistor y haciéndolo más difícil o más fácil de activar el transistor en el tiempo). Desarrolladores libres de iones metálicos como el hidróxido de tetrametilamonio (tmah) ahora se usan.

la oblea resultante es entonces "cocida al horno" si se usó una resistencia no amplificada químicamente, típicamente entre 120 y 180 ° c [citación necesitada] durante 20 a 30 minutos. el duro cocido solidifica el resto fotorresistencia , para hacer una capa protectora más duradera en futuras implantaciones de iones, grabado químico húmedo o grabado con plasma.


aguafuerte

en el grabado químico, un agente químico líquido ("húmedo") o de plasma ("seco") elimina la capa superior del sustrato en las áreas que no están protegidas por fotorresistencia . en la fabricación de semiconductores, las técnicas de grabado en seco generalmente se utilizan, ya que pueden hacerse anisotrópicas, para evitar una subcotización significativa de la fotorresistencia patrón. esto es esencial cuando el ancho de las características a definir es similar o menor que el grosor del material que se está grabando (es decir, cuando la relación de aspecto se aproxima a la unidad). los procesos de grabado húmedo son generalmente de naturaleza isótropa, que a menudo es indispensable para sistemas microelectromecánicos, donde las estructuras suspendidas deben "liberarse" de la capa subyacente.

el desarrollo del proceso de grabado en seco anisotrópico de baja deficiencia ha permitido que las características cada vez más pequeñas definidas fotolitográficamente en la resistencia se transfieran al material del sustrato.


fotorresistencia eliminación

después de fotorresistencia ya no es necesario, debe ser eliminado del sustrato. esto generalmente requiere un "removedor de resistencia" líquido, que altera químicamente la resistencia para que ya no se adhiera al sustrato. alternativamente, fotorresistencia puede ser eliminado por un plasma que contiene oxígeno, que lo oxida. este proceso se llama ceniza y se asemeja al grabado en seco. uso de solvente 1-metil-2-pirrolidona (nmp) para fotorresistencia es otro método utilizado para eliminar una imagen. cuando la resistencia se ha disuelto, el solvente se puede eliminar calentando a 80 ° C sin dejar ningún residuo.


microposit s1800 serie g2 fotorresistencia



resistencia negativa nr9-6000py



resistencia negativa nr9-6000p


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