reflejos

• las anélulas y las anguilas corregidas por aberración revelan perfiles estructurales y elementales a través de las interfaces de enlace gaas / si en gainp / gaas / si - celdas solares de múltiples uniones.

• las fluctuaciones en la concentración elemental en capas de interfaz amorfas de espesor nanométrico, incluidas las disgregaciones de elementos ligeros, se miden utilizando anguilas.

• los anchos proyectados de las capas de interfaz se determinan en la escala atómica a partir de mediciones stem-haadf.

• los efectos del tratamiento de activación del átomo y del haz de iones sobre las interfaces de enlace se evalúan cuantitativamente a escala nanométrica.

• las mediciones ponen de relieve la importancia de evaluar la influencia de las interfaces en las características de corriente-voltaje en las células solares de múltiples uniones [5].

abstracto

se han aplicado investigaciones de microscopía electrónica de transmisión de barrido corregida por aberración (tallo) y de espectroscopía de pérdida de energía de electrones (anguilas) para investigar las fluctuaciones de estructura y composición cerca de las interfases en células solares de unión múltiple ligadas a obleas. las células solares de múltiples uniones son de particular interés ya que se han obtenido eficiencias muy superiores al 40% para las células solares concentradoras que se basan en semiconductores compuestos iii-v. en esta investigación orientada metodológicamente, exploramos el potencial de combinar imágenes de vástago oscuro de campo anular de alto ángulo con aberración corregida (haadf-stem) con técnicas espectroscópicas, como anélulas y espectroscopía de rayos X de energía dispersiva (edxs), y con microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (hr-tem), para analizar los efectos de los tratamientos de activación de haz de átomo rápido (fab) y bombardeo iónico (ib) sobre la estructura y composición de las interfaces de enlace de las células solares ligadas a oblea en si sustratos. Las investigaciones con tallo / anguila son capaces de medir cuantitativamente y con alta precisión los anchos y las fluctuaciones en las distribuciones de elementos dentro de capas de interfaz amorfas de extensiones nanométricas, incluidas las de elementos ligeros. tales mediciones permiten el control de los tratamientos de activación y, por lo tanto, ayudan a evaluar los fenómenos de conductividad eléctrica relacionados con las distribuciones impurezas y dopantes cerca de las interfaces para un rendimiento optimizado de las células solares.

palabras clave

célula solar de múltiples uniones; enlace de oblea; interfaces; aberración corregida tallo / anguila

fuente: sciencedirect

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