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lbic investigación de interacción impureza-dislocación en fz obleas de silicio

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lbic investigación de interacción impureza-dislocación en fz obleas de silicio

2017-10-15

en el presente trabajo, las matrices de dislocación se investigan en la zona flotante (fz) crecientes obleas de silicio mediante la técnica de mapeo de corriente inducida por haz de luz (lbic) a diferentes longitudes de onda y mediante espectroscopía transitoria de nivel profundo (dlts). la técnica lbic parece ser capaz de reconocer y detectar estas matrices y evaluar su fuerza de recombinación. en las obleas dislocadas, una difusión de fósforo atenúa fuertemente el contraste lóbico de las dislocaciones, dependiendo de la duración y la temperatura del tratamiento. la actividad eléctrica a temperatura ambiente de los defectos, aún físicamente presente, parece desaparecer. simultáneamente, la intensidad máxima de los espectros dlts relacionados con las dislocaciones se reduce y esta evolución depende de la temperatura y duración de la difusión del fósforo.

palabras clave

zona flotante; fuerza de recombinación; obleas de silicio


fuente: sciencedirect


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